信頼性物理に基づく信頼性創り込みと信頼性試験技術【アーカイブ配信】

（株）リコー　先端技術研究所　シニアプロフェッショナル／
電気通信大学　情報理工学研究科 情報学専攻　客員研究員　博士（工学）
門田　靖　氏

【専門】
デバイス・材料の信頼性物理
【学歴】
1981年　東京都立大学理学部物理学科卒業
2016年　電気通信大学情報システム学研究科社会知能情報学専攻　博士(工学)取得
【職歴】
1981年　(株)リコー入社　同年本社品質保証部門信頼性部署配属　
以後　電子デバイス及び電子写真の信頼性技術業務に従事
2003年　信頼性技術業務に加えて品質戦略業務に従事
2012年　信頼性技術業務，品質戦略業務に加えて，環境安全及び製品安全技術業務に従事，
2016年　新規デバイスの研究開発業務
主な外部活動歴）
1987年～現在　一財)日本科学技術連盟関連　現信頼性関連講座講師/運営小委員長
1989年～現在　日本信頼性学会　監事/前会長/元副会長/
1984年～2002年，2024～現在　
一財)日本電子部品信頼性センター　故障物理研究委員会　研究委員
1992年～1994年　大阪大学 工学部電子工学専攻(大学院) 非常勤講師
1994年～2006年　独法)日本学術振興会ナノプローブテクノロジー167委員会　研究委員/副委員長
2014年～現在　地独)都立工業技術研究センター　信頼性安全技術研究会　副会長
2021年～現在　電子情報通信学会　信頼性専門委員長　委員長/前副委員長
2023年～現在　独法)高齢・障害・求職者支援機構　高度ポリテクセンター　講師
【主な著書】
2022年　信頼性物理；日科技連出版
2012年　信頼性と安全性； 日科技連出版
2008年　APPLIED SCANNING PROBE METHODS X/ Biomimetics and industrial applications Applied Scanning Probe Methods；Springer Science and Business Media
2007年　ROADMAP OF SCANNING PROBE MICROSCOPY；Springer Science and Business Media
2002年　走査型プローブ顕微鏡-基礎と未来予測；丸善株式会社
【主な査読論文・国際シンポジウム報告】
2023年　“Considerations for the failure mechanism of Time-Dependent Dielectric Breakdown in various dielectric layers.”, The Korean Reliability Society Symposium, 23.November
2016年　“潜在リスク抽出のための事故情報解析技法の提案”, 信頼性, 日本信頼性学会, 1月
2014年　“The proposed technique of looking down the product safety level of safety standards and accident information”, International Conference on Quality, ICQ’14
2001年　“Microscopic Observation of Pb-Free Solder Joint Interface”，2nd International Symposium on Environmentally Conscious Design and Inverse Manufacturing